Advances in Imaging and Electron Physics
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期刊基础介绍
Advances in Imaging & Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics & Electron Physics and Advances in Optical & Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
期刊核心参数
通讯方式
ELSEVIER ACADEMIC PRESS INC, 525 B STREET, SUITE 1900, SAN DIEGO, USA, CA, 92101-4495
涉及的研究方向
物理-物理:应用
出版国家或地区
UNITED STATES
年文章数
21
PubMed Central (PMC)链接
平均录用比例
容易
CITESCORE
CiteScore SJR SNIP CiteScore排名 0.50 0.113 0.029 学科 分区 排名 百分位 大类:Physics and Astronomy 小类:Condensed Matter Physics Q4 421 / 443 5% 大类:Physics and Astronomy 小类:Nuclear and High Energy Physics Q4 81 / 91 11% 大类:Physics and Astronomy 小类:Electrical and Electronic Engineering Q4 848 / 970 12%WOS期刊JCR分区
WOS分区等级:0区暂无按学科分区信息
期刊分区表预警名单
2025年03月发布的2025版:不在预警名单中2024年02月发布的2024版:不在预警名单中
2023年01月发布的2023版:不在预警名单中
2021年12月发布的2021版:不在预警名单中
2020年12月发布的2020版:不在预警名单中
中科院2025年3月升级版
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