Advances in Imaging and Electron Physics

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Advances in Imaging and Electron Physics

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期刊基础介绍

Advances in Imaging & Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics & Electron Physics and Advances in Optical & Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.

期刊核心参数

通讯方式
ELSEVIER ACADEMIC PRESS INC, 525 B STREET, SUITE 1900, SAN DIEGO, USA, CA, 92101-4495
涉及的研究方向
物理-物理:应用
出版国家或地区
UNITED STATES
年文章数
21
平均录用比例
容易

CITESCORE

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名 0.50 0.113 0.029 学科 分区 排名 百分位 大类:Physics and Astronomy 小类:Condensed Matter Physics Q4 421 / 443 5% 大类:Physics and Astronomy 小类:Nuclear and High Energy Physics Q4 81 / 91 11% 大类:Physics and Astronomy 小类:Electrical and Electronic Engineering Q4 848 / 970 12%

WOS期刊JCR分区

WOS分区等级:0区

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期刊分区表预警名单

2025年03月发布的2025版:不在预警名单中

2024年02月发布的2024版:不在预警名单中

2023年01月发布的2023版:不在预警名单中

2021年12月发布的2021版:不在预警名单中

2020年12月发布的2020版:不在预警名单中

中科院2025年3月升级版

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(没有被最新的JCR升级版收录,仅供参考。分区表官方可能在发布后做修订。)

中科院2023年12月旧的升级版

(没有被2023年的JCR升级版收录,仅供参考)

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